認(rèn)證咨詢(xún)熱線:1897550743315766754503 English
2021年11月出版的EN IEC/IEEE 62209-1528:2021與 IEC/IEEE 62209-1528:2020 相同。 它將取代于2024年11月19日撤銷(xiāo)的EN 62209-1:2016, EN 62209-2:2010+A1:2019和已撤銷(xiāo)的IEC/IEEE 62209-1528:2020。
四、器械支架規(guī)范;
設(shè)備支架應(yīng)由低損耗和低介電常數(shù)材料制成:損耗角正切≤ 0.05,相對(duì)介電常數(shù)≤ 5。
Class1: 符合本標(biāo)準(zhǔn)文件所有條款的設(shè)備,通過(guò)測(cè)量減少的點(diǎn)數(shù),然后使用額外的后處理 (但是精度較低、不確定度大)
Class2: 不符合本文件所有規(guī)范條款的設(shè)備進(jìn)行的測(cè)量的快速 SAR 測(cè)試方法,場(chǎng)重建算法的掃描系統(tǒng)或陣列系統(tǒng)屬于這一類(lèi)
八、驗(yàn)證條款的修訂,包括驗(yàn)證天線;
九、修訂 SAR 評(píng)估程序;
十一、不確定性分析;